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          新啟航半導體有限公司


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          2026
          -
          08
          白光干涉儀(White Light Interferomet...
          摘要超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)是半導體晶圓、精密光學基底、微機電系統(MEMS)基底等高端制造領域的核心基材,其拋光、化學機械拋光(Ch...
          白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)形貌測量技術在超光滑樣品(Ultra-smooth Sample) 加工工藝優化中的異常分析應用
          05
          2026
          -
          08
          鏡片鍍膜厚度 偏移,白光干涉儀核驗光學鍍膜制程
          光學鏡片(Optical Lens)鍍膜制程中,鍍膜厚度(Coating Thickness)是決定膜系光學性能的核心參數。物理氣相沉積(PVD)、磁控濺射等工藝...
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          05
          2026
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          基于光學輪廓測量的加氫密封件平面度熱變形研究
          高壓加氫反應器(High-pressure Hydrogenation Reactor)是石化加氫工藝核心承壓設備,其密封件(Sealing Component)...
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          05
          2026
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          超光滑表面(Ultra-smooth Surface) 微納...
          摘要超光滑表面廣泛應用于半導體、精密光學、微機電系統(Micro-Electro-Mechanical System, MEMS)器件制造領域,拋光、鍍膜制程易產...
          超光滑表面(Ultra-smooth Surface) 微納工藝異常的精準檢測,白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI) 技術優勢與應用實踐
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