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            • 新啟航半導體有限公司


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              激光共聚焦誤差根源及白光干涉儀替代方案
              一、激光共聚焦顯微鏡粗糙度檢測偏差根源1、1 物鏡先天視野局限納米級粗糙度檢測主流采用尼康50×APO高倍物鏡,設備精度與物鏡倍率正相關,但高倍率會大幅壓縮成像視...
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              柔性印制電路板(Flexible Printed Circuit,FPC)是消費電子、半導體精密組裝的核心輕量化基材,其封裝邊緣直線度(Straightness)...
              有效提升電子組件組裝良品率(Assembly Yield),依靠光學 3D 輪廓儀檢測 FPC 封裝直線度(Straightness)
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              光學輪廓測量評估煤粉輸送閥平面度防竄漏(Anti-chann...
              在煤粉輸送系統中,輸送閥密封面平面度(Flatness)超差是引發防竄漏失效(Anti-channeling Failure)、煤粉外漏及管路壓力擾動的核心誘因。...
              光學輪廓測量評估煤粉輸送閥平面度防竄漏(Anti-channeling)應用價值
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              MEMS 傳感器溝槽刻蝕(Groove Etching of...
              摘要微機電系統傳感器(Micro-Electro-Mechanical Systems, MEMS)制備過程中,溝槽刻蝕形貌、薄膜沉積厚度、多層結構臺階高度,是決...
              MEMS 傳感器溝槽刻蝕(Groove Etching of MEMS Sensor)、薄膜厚度(Thin Film Thickness)與臺階高度(Step Height)測量,采用白光干涉儀檢測
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