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            新啟航半導體有限公司


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            光學輪廓儀采集機械硬盤結合面平面度數據(Joint Surf...
            機械硬盤(Hard Disk Drive, HDD)殼體結合面密封適配精度,直接決定設備防塵、防漏氣性能,是保障硬盤存儲運行穩定的核心工藝指標,結合面平面度(Fl...
            光學輪廓儀采集機械硬盤結合面平面度數據(Joint Surface Flatness Data),精準研判密封適配工藝異常
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            超薄薄膜(Ultra-thin Film)工藝畸變與微觀缺陷...
            超薄薄膜(Ultra-thin Film)廣泛應用于半導體晶圓(Wafer)、鈣鈦礦光伏、微機電系統(MEMS)等核心工業領域。薄膜經濺射(Sputtering)...
            超薄薄膜(Ultra-thin Film)工藝畸變與微觀缺陷檢測,基于白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI) 高精度表征方法
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            骨釘螺紋高度偏差白光干涉儀排查精密切削工藝隱患
            醫用骨釘(Bone Screw)作為骨科核心內固定耗材,螺紋高度(Thread Height)是決定把持力、旋入扭矩與界面鎖緊穩定性的關鍵尺寸參數。骨釘精密切削加...
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            量產成型引發平面度一致性差異(Consistency Dif...
            機械硬盤(Hard Disk Drive, HDD)盤片量產成型工序中,平面度(Flatness)一致性差異(Consistency Difference)是影響...
            量產成型引發平面度一致性差異(Consistency Difference),光學輪廓儀治理機械硬盤批量制程工藝異常
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