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BGA 錫球共面度標準化檢測方案，詳解光學 3D 輪廓儀工業...

光學3D輪廓儀依托非接觸式三維掃描原理，適配IPC-7351、JEDEC行業標準，可高速采集BGA錫球全域3D形貌點云數據，自動擬合基準平面，精準計算單球高度差、...

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超薄薄膜（Ultra-thin Film）是光電傳感、精密光學鍍膜、半導體微電子領域的核心功能材料。薄膜制備常用的磁控濺射（Magnetron Sputterin...

白光干涉儀（White Light Interferometer, WLI）高精度表征下超薄薄膜（Ultra-thin Film）表面瑕疵與工藝誤差關聯性研究

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超臨界 CO?設備密封平面度工藝質控及光學輪廓測量技術應用

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在芯片SMT（Surface Mount Technology，表面貼裝技術）量產制程中，BGA（Ball Grid Array，球柵陣列）錫球共面度（Copla...

光學 3D 輪廓儀精準測量 BGA 錫球共面度（Coplanarity），全面提升芯片 SMT 焊接良率（Welding Yield）

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