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明確 CMOS 感光芯片平面度檢測(cè)必要性，光學(xué) 3D 輪廓儀...

互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體感光芯片（CMOS Image Sensor, CIS）是消費(fèi)電子、工業(yè)影像設(shè)備的核心半導(dǎo)體元器件。芯片表面平面度（Flatness）是封裝工...

明確 CMOS 感光芯片平面度檢測(cè)必要性，光學(xué) 3D 輪廓儀提供微米級(jí)精準(zhǔn)測(cè)量方案（Precision Measurement Scheme）

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微透鏡全參數(shù)（Full Parameters of Micr...

摘要微透鏡陣列（Microlens Array, MLA）廣泛應(yīng)用于光通信、激光雷達(dá)、半導(dǎo)體傳感領(lǐng)域，其幾何形貌參數(shù)直接決定器件光學(xué)耦合效率。傳統(tǒng)探針式檢測(cè)、單焦...

微透鏡全參數(shù)（Full Parameters of Microlens）高效檢測(cè)，采用白光干涉儀提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案

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二手DAGE XD7600 X光檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格詳解

摘要：DAGE XD7600為半導(dǎo)體封裝（Semiconductor Packaging）專用離線式X-ray Inspection System（X光檢測(cè)系統(tǒng)）...

二手DAGE XD7600 X光檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格詳解

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噴油嘴高壓泄漏、怠速抖動(dòng)，深孔錐度與平面度（Flatness...

摘要高壓共軌（High Pressure Common Rail, HPCR）噴油嘴深孔密封面錐度（Taper）、端面平面度（Flatness）形位超差，是誘發(fā)高...

噴油嘴高壓泄漏、怠速抖動(dòng)，深孔錐度與平面度（Flatness）一體化測(cè)量方案

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