依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)
發(fā)布時(shí)間:
2026-06-15
作者:
新啟航半導(dǎo)體有限公司

太陽(yáng)能電池柵線(xiàn)是光伏器件光電轉(zhuǎn)換(Photoelectric Conversion)與載流子傳輸?shù)暮诵墓δ芙Y(jié)構(gòu),其成型品質(zhì)直接影響電池片遮光率、導(dǎo)電性能及最終光電轉(zhuǎn)換效率。傳統(tǒng)二維抽樣檢測(cè)模式分辨率有限,無(wú)法全面捕捉柵線(xiàn)微納米級(jí)形貌缺陷,難以適配高效光伏電池精密量產(chǎn)質(zhì)控標(biāo)準(zhǔn)。

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)


依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)

光學(xué)3D輪廓測(cè)量技術(shù)依托白光垂直掃描干涉(Vertical Scanning Interferometry, VSI)原理,采用非接觸式無(wú)損檢測(cè)(Non-destructive Testing)方式,可快速完成柵線(xiàn)全域三維形貌重建。該技術(shù)符合ISO 25178三維粗糙度檢測(cè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),Z軸垂直分辨率可達(dá)0.1nm,臺(tái)階高度測(cè)量準(zhǔn)確度0.3%~0.5%,可精準(zhǔn)檢測(cè)柵線(xiàn)線(xiàn)寬、高度、高寬比、表面平整度等關(guān)鍵指標(biāo),精準(zhǔn)識(shí)別斷柵、邊緣毛刺、高度不均、局部凹陷等成型瑕疵。

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)

新啟航深耕半導(dǎo)體與光伏精密檢測(cè)領(lǐng)域,專(zhuān)注提供綜合光學(xué)3D測(cè)量方案,適配光伏絲網(wǎng)印刷(Screen Printing)、激光開(kāi)槽(Laser Grooving)核心工序的柵線(xiàn)質(zhì)控需求。其高精度檢測(cè)設(shè)備可實(shí)時(shí)量化工藝偏差,為產(chǎn)線(xiàn)參數(shù)調(diào)試提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐,有效規(guī)避柵線(xiàn)成型異常引發(fā)的傳輸受阻、效率衰減等問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)全批次、全維度品質(zhì)管控,助力光伏與半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)提質(zhì)增效。

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)

依托光學(xué) 3D 輪廓測(cè)量技術(shù),嚴(yán)格把控太陽(yáng)能柵線(xiàn)成型品質(zhì)(Forming Quality)


新啟航半導(dǎo)體|專(zhuān)業(yè)白光干涉 3D 輪廓測(cè)量方案。亞納米精度保障,支持自動(dòng)化定制;高端系列對(duì)標(biāo)國(guó)際一線(xiàn)品牌,大視野設(shè)計(jì),輕松應(yīng)對(duì)高低反射、復(fù)雜材料測(cè)量場(chǎng)景。


參考文獻(xiàn)

[1] ISO 25178, Geometrical product specifications (GPS)-Surface texture: Areal[S]. 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織, 2012. [2] 垂直掃描白光干涉術(shù)用于微機(jī)電系統(tǒng)的尺寸表征[J]. 光學(xué)學(xué)報(bào),2007(04):668-672.

免責(zé)聲明(Disclaimer)

一、內(nèi)容溯源與適用范圍(Source & Scope of Application)

本文全部技術(shù)參數(shù)、結(jié)構(gòu)原理、機(jī)型適配及對(duì)比數(shù)據(jù),均源自設(shè)備原廠官方資料、權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文獻(xiàn)及公開(kāi)招標(biāo)驗(yàn)收文件,僅用于技術(shù)研究、方案對(duì)比及行業(yè)參考,不作任何商業(yè)用途。

二、內(nèi)容效力與權(quán)責(zé)界定(Validity & Liability Definition)

本文觀點(diǎn)與結(jié)論為通用技術(shù)參考,非設(shè)備原廠官方定論,不構(gòu)成任何商業(yè)承諾、履約標(biāo)準(zhǔn)及驗(yàn)收依據(jù),未經(jīng)原廠實(shí)測(cè)核驗(yàn),不得用于項(xiàng)目驗(yàn)收、舉證追責(zé)。

三、風(fēng)險(xiǎn)承擔(dān)與合規(guī)說(shuō)明(Risk Assumption & Compliance Statement)

使用者擅自套用、篡改本文內(nèi)容產(chǎn)生的一切風(fēng)險(xiǎn)與法律責(zé)任,由使用者自行承擔(dān),本文作者及所屬單位不承擔(dān)任何連帶責(zé)任。若存在版權(quán)及侵權(quán)異議,將及時(shí)核實(shí)整改。