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激光顯微鏡白光干涉模組（White Light Interf...

一、白光干涉測量優(yōu)選黑白CMOS的核心技術邏輯工業(yè)級白光干涉儀普遍標配黑白CMOS。彩色CMOS的硬件結構與成像算法會干擾、破壞干涉測量精度，無法滿足納米級精密測...

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量產加工造成平面度一致性偏差（Consistency Dev...

機械硬盤盤片（Hard Disk Platter）超精密拋光量產環(huán)節(jié)，易產生平面度（Flatness）一致性偏差（Consistency Deviation）工藝...

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全力保障薄膜結構完整性 (Film Structural I...

一、制程質控痛點概述光伏鈣鈦礦、半導體多層功能薄膜量產制程中，激光劃線(Laser Scribing)為薄膜模組電路隔離核心工序。劃線深度偏差易誘發(fā)薄膜剝離、基底...

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光學 3D 輪廓儀精準檢測散熱片翅片角度（Fin Angle...

散熱片是電子設備熱管理（Thermal Management）系統(tǒng)的核心換熱部件,翅片角度（Fin Angle）是決定散熱風道、有效換熱面積的關鍵幾何參數(shù),直接影...

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