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大視野3D白光干涉儀解決激光共聚焦拼接波紋抖動難題（Larg...

在半導體、精密制造領域，工件直線度與微觀形貌的精準測量是質量管控的核心環節。激光共聚焦顯微鏡（Laser Confocal Microscope, LCM）拼接檢...

大視野3D白光干涉儀解決激光共聚焦拼接波紋抖動難題（Large Field 3D White Light Interferometer Solve LCM Splicing Ripple Jitter Problem）

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精準把控 MLCC 核心電氣性能（Electrical Pe...

多層陶瓷電容器（Multi-layer Ceramic Capacitor, MLCC）端電極銀漿（Silver Paste）厚度及均勻性，是管控器件核心電氣性能...

精準把控 MLCC 核心電氣性能（Electrical Performance），優選光學 3D 輪廓儀完成銀漿厚度檢測

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微透鏡微結構 (Microstructure)成型缺陷，利用...

摘要微透鏡微結構（Microlens Microstructure）是CMOS圖像傳感器、光通信耦合器件的核心核心光學結構，量產過程涵蓋光刻、熱回流、注塑成型全工...

微透鏡微結構 (Microstructure)成型缺陷，利用白光干涉儀統籌解決全流程制程異常 (Process Abnormity)

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實現工業微米級精密檢測（Micron-level Preci...

多層陶瓷電容器（Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC）端電極銀漿（Silver Paste）涂布厚度是決定器件焊接強度、電氣穩定...

實現工業微米級精密檢測（Micron-level Precision Detection），采用光學 3D 輪廓儀測量 MLCC 銀漿厚度

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